分子光譜原位表征分析系統(tǒng)

A****熱分析儀

分子光譜原位表征分析系統(tǒng)國內(nèi)外均無成熟商業(yè)化設(shè)備供貨，分子光譜原位表征分析系統(tǒng)作為鑒定結(jié)構(gòu)和表征分子相互作用的主要手段之一，可以實(shí)現(xiàn)特殊的結(jié)構(gòu)特征或特征基團(tuán)的鑒別，表征峰位移的大小、強(qiáng)度及形狀是鑒定化學(xué)鍵、官能團(tuán)的重要依據(jù)。分子光譜原位表征分析系統(tǒng)對(duì)材料在合成、使用過程中結(jié)構(gòu)的變化，以及化學(xué)反應(yīng)過程中中間體對(duì)反應(yīng)的影響等研究至關(guān)重要。但是現(xiàn)有的商業(yè)化分子光譜類表征設(shè)備在光譜分析過程中容易受到熒光現(xiàn)象的干擾，并且對(duì)樣品要求較高，而且樣品容易被分析過程中發(fā)射的能量破壞。因此亟需研制滿足研究所科研需求的分子光譜原位表征分析系統(tǒng)，在實(shí)現(xiàn)分子光譜表征的同時(shí)配備高低溫、液體反應(yīng)、催化反應(yīng)和電化學(xué)原位裝置，實(shí)現(xiàn)界面處的反應(yīng)、化學(xué)反應(yīng)中活性位點(diǎn)、中間體以及產(chǎn)物的精細(xì)結(jié)構(gòu)，和極端或復(fù)雜環(huán)境下材料結(jié)構(gòu)和形態(tài)的變化研究。