品牌:
SENTECH
型號(hào):
SENDIRA(FTIR)
功能:
可測(cè)量薄厚度、折射率、消光系數(shù)等
用途范圍:
薄層的振動(dòng)光譜分析
產(chǎn)品規(guī)格:振動(dòng)光譜分析、凈化橢圓偏振光學(xué)器件、計(jì)算機(jī)控制測(cè)角儀等
公司所在地:重慶
產(chǎn)品庫存:現(xiàn)貨及定制
可供貨地區(qū):全國
橢圓振動(dòng)光譜; 完全適用的FTIR; 可見光范圍內(nèi)不透明的覆蓋層下面的層可進(jìn)行測(cè)量; 在400 cm?-1至6,000 cm?-1?(?1.7 μm?–?25 μm?)的光譜范圍提供高精度和高分辨;
展開橢圓振動(dòng)光譜; 完全適用的FTIR; 可見光范圍內(nèi)不透明的覆蓋層下面的層可進(jìn)行測(cè)量; 在400 cm?-1至6,000 cm?-1?(?1.7 μm?–?25 μm?)的光譜范圍提供高精度和高分辨; 收起