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經(jīng)濟(jì)高效的光譜橢偏儀

免費(fèi)樣品檢驗(yàn) 48小時(shí)發(fā)貨 工廠直銷
100萬-200萬

產(chǎn)品規(guī)格:VIS-NIR橢偏儀光學(xué)器件、5° 步長測角儀、激光對準(zhǔn)等

公司所在地:重慶

產(chǎn)品庫存:現(xiàn)貨及定制

可供貨地區(qū):全國

其他說明:

經(jīng)濟(jì)高效的光譜橢偏儀 5°步長離散入射角的測角儀 獨(dú)特的步進(jìn)掃描分析儀原理 測量光譜范圍為370nm-1050nm 應(yīng)用范圍從1nm的極薄層到高達(dá)15μm的厚層

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經(jīng)濟(jì)高效的光譜橢偏儀 5°步長離散入射角的測角儀 獨(dú)特的步進(jìn)掃描分析儀原理 測量光譜范圍為370nm-1050nm 應(yīng)用范圍從1nm的極薄層到高達(dá)15μm的厚層收起

品牌:
SENTRCH
型號:
SENpro
功能:
確定單層薄膜和復(fù)雜層堆疊的厚度和折射率
用途范圍:
測量及可對不同入射角橢偏測量進(jìn)行數(shù)據(jù)分析
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