品牌:
SENTRCH
型號:
SENpro
功能:
確定單層薄膜和復(fù)雜層堆疊的厚度和折射率
用途范圍:
測量及可對不同入射角橢偏測量進(jìn)行數(shù)據(jù)分析
產(chǎn)品規(guī)格:VIS-NIR橢偏儀光學(xué)器件、5° 步長測角儀、激光對準(zhǔn)等
公司所在地:重慶
產(chǎn)品庫存:現(xiàn)貨及定制
可供貨地區(qū):全國
經(jīng)濟(jì)高效的光譜橢偏儀 5°步長離散入射角的測角儀 獨(dú)特的步進(jìn)掃描分析儀原理 測量光譜范圍為370nm-1050nm 應(yīng)用范圍從1nm的極薄層到高達(dá)15μm的厚層
展開經(jīng)濟(jì)高效的光譜橢偏儀 5°步長離散入射角的測角儀 獨(dú)特的步進(jìn)掃描分析儀原理 測量光譜范圍為370nm-1050nm 應(yīng)用范圍從1nm的極薄層到高達(dá)15μm的厚層收起